详细描述
OmniScan X3 相控阵探伤仪有一种非常熟悉的感觉：便携性强的功能和产业环境的坚固外壳依然存在，但用户界面更加简洁和现代。如果你没有使用过这种设备，你很快就会知道OmniScan为什么会受到全世界检查人员的欢迎和信任。
信心满满，昭然可见
重新打造的OmniScan
今天，相控阵检查组的主力成员更加出色！OmniScan探伤仪(Omniscan探伤仪)因其可靠性、图像清晰度、易用性等特点而成为全球便携式相控阵领域的标杆，现在该设备增加了TFM(全焦点)图像等强大功能，使用户能够更加自信地执行测试任务。
如果你以前用过OmniScanX设备，你会对OmniScanX3探测器有非常熟悉的感觉。也就是说，便携性高的功能和适合产业环境的坚固外壳依然存在，但用户界面更加简洁和现代。如果没有使用过这种设备，很快就会知道OmniScan为什么能成为世界各地检查人员欢迎和信任的标杆。
基本特性
机载TOFD（衍射时差）功能
2个UT通道
通过坠落测试，符合IP65评级标准
8组声束设置
与现有的奥林巴斯扫查器和探头相兼容
16:128PR配置或32:128PR配置
符合ISO 18563‑1:2015和EN12668‑1:2010
可提升效率的创新特性
通过全矩阵捕获（FMC）功能可以采集到全聚焦方法（TFM）图像（可支持64个晶片的孔径）
4 GB的大文件容量，64 GB的内存
精心设计的软件，大大减少了按键的次数
在单一工作流程中创建整个扫查计划
通过“单扫”方式，快速采集校准的包络线
1024个聚焦法则
自始至终，可以完成更有效的检测
立即投入工作
使用全面的机器检查计划工具功能，用户可以在测试开始前观察检测到的图像。如果用户在检查计划中遗漏了特定信息，则这些可视化工具可以提前发现这些错误，从而降低错误风险。用户可以将整个检查计划(包括TFM(全焦点方法)区域)制作成简单的工作流。增强的校准和设置验证工具使用户能够快速完成测试设置的创建，并尽快投入测试。
更快完成设置工作
可以一次性配置多个探头/组
在仪器上创建双晶线性、矩阵和双矩阵列的设置
自动楔块验证
单扫校准
使用同时多点时间校正增益（TCG）进行数据采集
对保存的设置进行简化的校准验证 过程
质量更好的图像可以使用户更有信心地判读缺陷指示信号
更明确的相控阵图像有助于用户更自信地解释信号指示。使用全焦点(TFM)功能，可以获得工件总体积部分的更清晰图像，并将这些图像组合在一起，生成准确反映工件几何形状的图像，从而确认使用常规相控阵技术获得的缺陷特性。可以使用64个激活芯片执行全矩阵捕获操作，从而大大增加全焦点(TFM)覆盖面，优化检测分辨率。
其他功能，包括16位A扫描、插值和平滑，可以提高相控阵成像质量，从而更有效地执行缺陷检查任务。
检测工具，仪器提供
• 快速访问所需的功能，即使在检测过程中，也能做到这点
• 高效的菜单结构，意味着无需多次按动按钮，即可以完成 检测
• 兼具高性能和多功能：在需要时，可以使用模式访问专 家级别的功能
• 使用奥林巴斯科学云系统（OSC），以无线方式发送数据， 或与检测现场以外的同事分享屏幕
• 支持双晶线性/双晶矩阵阵列探头、动态深度聚焦、自动光 标定位以及更多其它功能
• 4 GB机载文件容量可以帮助用户在无需分段扫查或卸载数 据的情况下扫查较大的部件
• 使用内置GPS功能可以对获得检测结果的地点进行跟踪
更快地进行分析，更快地获得结果
分析拓扑阵列数据可能比检查需要更长的时间。OmniScan X3探测器为用户提供了灵活易用的工具。使用这些工具，无论用户使用装置还是PC，都可以更快地分析数据。增强的缺陷报告和SD卡、USB存储器、云系统等多种导出选项使您能够轻松地与他人交换综合测试结果，包括扫描计划和缺陷定量。
数据解读工具
• 焊缝闸门可以降低来自不规则几何形状的回波的影响
• 体积顶视图和体积侧视图可以融合在一起，并修正几何形状 方面的数据，以突出显示缺陷
• 自动光标定位功能可以标出从指示信号的峰值波幅下降了‑6 dB的点的位置，节省了定位光标的时间
• 可以将第三方程序连接到奥林巴斯科学云系统，因此用户可 以使用自己喜欢的分析程序访问检测数据
检测团队中的主力成员
OmniScan X3探伤仪具有强大的检测性能和很高的灵活性，可以迎接相控阵检测提出的挑战。无论您正在检测的是焊 缝、管道、压力容器，还是复合材料，OmniScan X3仪器都可以为您提供适用的功能，帮助您有效地完成检测工作， 并充满信心地解读缺陷数据。
焊缝
通过多组声束设置视图，核查是否可以正确覆盖焊缝区域
波幅范围可被扩展到800 %，因此用户无需再次扫查部件， 就可以对饱和的指示信号进行表征，如：未熔合的指示信 号。
支持多探头配置和不同的触发方案，从而可以更好地覆盖每 个焊缝区域
焊缝闸门可以突出显示需要关注的区域
腐蚀
很高的采集速度，可以更方便地检测较大的管道或容器
4 GB单个文件容量，可以减少中断操作的次数，并采集到 更多的数据
与所有奥林巴斯腐蚀扫查器相兼容
支持双晶线性阵列探头，从而可获得改进的近表面分辨率
复合材料
高波幅范围（800 %）和16比特数字转换器可以在检测衰减 性较强的材料时，获得更宽泛的动态检测范围
TCG动态范围可达65 dB，且提供经过改进的TCG表格视 图，以对各个点进行手动编辑
12 kHz的扫查速度，可以在较大的扫查区域中快速采集数据
对很宽的脉冲宽度进行控制，以优化对低频探头的使用
性能可靠，令人信赖
如果您在室外对您的资产进行检测， 检测工具可能会被淋湿，会升温，甚 至会掉落。这就是我们为什么会格外 注重OmniScan X3探伤仪坚固耐用 性能的原因，而且我们的OmniScan X3已经通过了严格的耐用性测试。这 款仪器符合IP65防尘、防水的评级要 求，通过了从4英尺高处坠落的测试。 在您准备好进行检测时，这款仪器可 以立即投入工作。10.6英寸WXGA大 显示屏在大多数光线条件下可以提供 清晰可见的图像，同时操作人员还可 进行简洁的触摸屏操作，即使在带着 手套，施用了耦合剂，或其它较为困 难的条件下，也可以如此。在高温环 境中，可以使用更换方便的冷却风扇 使工作温度保持在‑10 °C到45 °C 的范围内，而且还不会降低仪器符合 IP65评级标准的性能。
感受云系统的强大性能
可以将数据连接到奥林巴斯科学云系 统的无线连通性能，可使用户更有效 地进行协同合作，并对相控阵数据进 行无缝管理工作。
与同事分享仪器屏幕，获得指导建议 或不同的意见
将数据上载到云系统，以从任何地点 对数据进行访问
在云系统中保存检测设置文件，以在 需要时访问这些文件，或将这些文件 通过奥林巴斯科学云系统的集线器部 署到相关的项目中
访问云系统中的校准认证文件
无线固件更新有助于确保用户获得软件和功能
